詳細摘要： JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。
產品型號：所在地：廣州市更新時間：2024-11-30 在線留言粉碎設備 混合設備 分離設備 濃縮結晶設備 傳質設備 干燥設備 反應設備 換熱設備 制冷設備 空分設備 儲存設備 鍋爐|加熱設備 包裝機械 輸送設備 化工實驗室設備
廣州文明機電有限公司
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詳細摘要： JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。
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詳細摘要： CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品，可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED...
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詳細摘要： “NEOARM" 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的...
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詳細摘要： JSM-7200F的電子光學系統應用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術，標配了TTLS系統（Through-The-L...
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詳細摘要： 的JSM-7610F的光學系統經過改進，實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒...
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詳細摘要： JEOL新一代場發射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的...
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詳細摘要： JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學控制系統Neo Engine，一個新開發的操作GUI“SEM Cen...
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詳細摘要： JEOL InTouchScope™系列的新機型, 采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間...
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詳細摘要： CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 場發射冷凍透射電子顯微鏡CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子...
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詳細摘要： 可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。
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詳細摘要： 2003年日本電子推出了世界商業化場發射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應用于金屬、材料、地質等各個領域，并獲得了的贊譽。研發的第三代場發射電子探針JX...
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詳細摘要： JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更的一體化EPMA。
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詳細摘要： JMS-S3000采用日本電子獨自研發的SpiralTOF模式離子光學系統，它創新的技術在學術界已廣為人知，其超高的質量分辨率和質量準確度，于傳統的裝置。
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詳細摘要： JMS-MT3010HRGA采用的Multi-Turn技術，在只有20cm見方的質量分析器內，離子的最長飛行距離高達200ｍ。
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詳細摘要： MS-800D UltraFOCUS™ 是進行超低濃度分析的，采用高分辨選擇離子監測模式（HRSIM）適合二惡英及相關化合物如:二惡英、多氯聯苯(P...
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詳細摘要： 通過高頻感應加熱產生大約1萬度的熱等離子體，經過物理/化學反應過程，能合成納米顆粒及厚膜(鍍膜)
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詳細摘要： JMS-700高分辨質譜儀全部采用電腦控制，離子源和各種參數具有自動調諧功能，不僅是常規測試，利用高分辨測試等所有模式都能容易地獲得高質量的分析結果。
產品型號：所在地：更新時間：2024-08-02 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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