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上海斯邁歐分析儀器有限公司
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賽默飛輝光放電質譜儀ELEMENT GD Plus具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素
賽默飛輝光放電質譜儀ELEMENT GD Plus結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元素，是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的工具。
賽默飛輝光放電質譜儀ELEMENT GD Plus集中了輝光放電和高分辨質譜的優勢，在以下方面有杰出表現：
· 樣品測試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設計使可縮短換樣和分析時間，顯著提高生產率；
· 檢測器線性范圍寬：檢測器線性范圍達12個數量級，可一次掃描同時檢測基體和痕量元素組成；
· 具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。
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