詳細介紹
1.固體介質折射率測定儀HAD-FD-OE-3
折射率是反映介質光學性質的重要參數之一。本儀器采用的實驗方法,在光學測量中具有典型性和基本要求的特點。用測布儒斯特角的方法測量透明介質的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數方法,測量部分半導體如硅、砷化鎵等介質的折射率。本儀器具有體積小,重量輕,調節方便,裝置牢靠,實驗數據穩定可靠等優點。本儀器可用于基礎物理實驗,設計性與研究性物理實驗及物理奧林匹克競賽培訓實驗用。固體介質折射率測定儀HAD-FD-OE-3本儀器具有以下優點:
1.采用高強度優質鋁合金材料制成,表面經陽極氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹,使用壽命長。
2.帶有刻度的轉盤經精心設計和加工,轉動輕巧靈活,讀數準確。
3.采用數字式光功率計測量偏振光光強,測量結果穩定可靠。
4.有黑色遮光罩擋光,可在明光及通風條件下做光學實驗,在同一實驗室各組實驗互不干擾。
應用本儀器可以完成以下實驗:
1. 光的偏振現象的觀察和分析,加深對光偏振規律的認識。掌握獲得線偏振光的知識及確定偏振片偏振方向的方法。
2. 用布儒斯特定律,測量對可見光透明固體材料的折射率。
3.通過測量偏振光二個分量入射到介質上反射光的反射系數,測量半導體硅等材料的折射率。
儀器主要技術參數:
1. 半導體激光器 波長650nm,功率 1.5-2.0mW,工作電壓3V。
2. 轉盤 直徑為2.0cm,可調范圍0-360°,分度值1°。
3.水平光學轉臺 可 0-360゜轉動,分度值 1°。
4.數字式光功率計 量程有200uW和2mW二檔,三位半液晶顯示。
2.太陽能電池特性測定儀 型號;HAD-FD-OE-4
能源的重要性人人皆知,為了經濟持續發展及環境保護,人們正大量開發其它能源如水能、風能及太陽能的利用。其中以硅太陽能電池作為綠色能源其開發和利用大有發展前景。本儀器提供的實驗,意在提高學生對太陽能電池的特性的認識,學習研究太陽能電池的基本光電特性,學會電學與光學的一些重要實驗方法及數據處理方法。儀器具有以下優點: 1.采用高強度優質鋁合金材料制成,表面經陽極氧化處理,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹,使用壽命長。采用數字式光功率計測量光強,測量結果穩定可靠。2.有黑色遮光罩擋光,可在明光及通風條件下做光學實驗,在同一實驗室各組實驗互不干擾。
應用本儀器可以完成以下實驗:
1.在沒有光照時,太陽能電池作為一個二極器件,測量在正向偏壓時該二極器件的伏安特性曲線,并求出其正向偏壓時,電壓與電流關系的經驗公式。
2.測量太陽能電池的短路電流、開路電壓、zui大輸出功率及填充因子。
3.測量太陽能電池的短路電流、開路電壓與相對光強的關系,求出它們的近似函數關系。
本儀器可用于高校、中專、職校基礎物理實驗及設計性、研究性的物理實驗,也可用于物理奧林匹克競賽培訓用。
儀器主要技術參數:
1.光具座 鋁合金制,標尺長80.0cm,分度值1mm,燕尾形凸形導軌結構。
2.滑塊二塊 燕尾形凹滑塊結構,鋁合金制。
3.光源 功率40W射燈形結構。
4.帶探測器數字式光功率計 量程有200uW和2mW二檔,三位半液晶顯示。
3.單絲和單縫衍射實驗儀 型號;HAD-FD-OE-5
單絲、單縫和小孔衍射實驗是高校理工科基本光學實驗之一。本儀器用半導體激光器為光源,觀察單絲、單縫和圓孔的夫瑯和費衍射現象,以及絲徑、縫寬、孔徑的變化對衍射的影響,加深對光的衍射理論的理解,并利用衍射花樣測定單絲的直徑和單縫寬度。本儀器有以下優點:
1.光具座用高強度優質鋁合金材料制成,表面經陽極氧化處理,儀器重量輕,體積小,經久耐用,不生銹,使用壽命長。
2.配有各種直徑的單絲(包括支架)、小孔和不同縫寬的單縫,觀察各種衍射現象,物理現象明顯。采用非接觸測量方法,測量金屬絲直徑和細縫縫寬的準確度較高。
3.光具座的滑塊可離開導軌自由在桌面上移動,以增加白色象屏與單絲(或單縫)距離,用米尺可準確測出它們之間距離(滑塊與導軌經專門設計)。
應用本儀器可以完成以下實驗:
1.用于基礎物理實驗作光衍射實驗用。
2.作設計性與綜合性學生物理實驗。
3.可用于課堂光衍射實驗及自學物理實驗。
儀器主要技術參數:
1.光具座 底座長度50.0cm,其分度值1mm,底座質量2.5Kg。(長度可定做)
2.滑塊三只,滑塊側面有專門刻線,便于測量屏到縫的直線距離。
3.單絲、小孔和狹縫支架一個。
4.半導體激光器及電源,激光波長650nm,激光器工作直流電壓3V。
4.雙棱鏡光干涉實驗儀 型號;HAD-FD-FBI-B
1826年法國科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相干光的波前分成兩部分,形成分波面干涉,利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光干涉實驗的物理思想、實驗方法與測量技巧,具有很深的教學價值。本雙棱鏡光干涉實驗儀具有以下優點:
1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源,半導體激光經大幅度降低光強處理,用其作光源具有相干性且不傷害眼睛的優點,可很方便調出圖像清晰干涉條紋,也為鈉光干涉條紋調節帶來方便,測量二種光的波長進行比較。
2.導軌和轉盤采用高強度優質鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、不會生銹、經久耐用、手感好。
3.帶有黑色擋光罩,可在白光及通風條件下做光學實驗。
本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。
應用本儀器可以完成以下實驗:
1.觀察雙棱鏡的干涉現象。
2.測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。
3.觀察其他光源的雙棱鏡光干涉現象。
儀器主要技術參數:
1.導軌 長80.0cm,分度值1mm;滑塊5只,其中1個滑塊上帶轉動裝置。
2.帶轉盤的狹縫 縫寬約0.04mm。
3.測微目鏡和支架 測微目鏡量程0-8mm,分度值0.01mm。
4.光源 半導體激光器,光波長650.0nm,已大幅度衰減光強。工作電壓直流3V。
5.鈉光燈及電源(選配)。
5.偏振光旋光實驗儀 型號;HAD-FD-PE-B
旋光效應在科研和技術檢測部門有很多應用,如醫藥工業、藥檢和商檢部門經常用旋光法測量藥物和商品的濃度(如kekayin、尼古丁、樟腦等),旋光儀也是制糖工業和食品工業檢測糖含量的儀器之一。本偏振光旋光實驗儀與其他旋光儀相比有以下優點:
1.學生動手和動腦內容多,物理現象明顯,體現教學儀器許多優點和特點。
2.可做多種偏振光實驗:旋光效應、光偏振實驗、馬呂斯定律驗證等。
3.體積小,重量輕。采用高強度鋁合金制造光具座、滑塊、轉盤,美觀且耐用。
本儀器可以用于基礎物理實驗、設計性與研究性物理實驗與演示實驗。
應用本儀器可以完成以下實驗:
1.用于偏振光旋光實驗:
1)了解一些物質的旋光特性,測量旋光度。
2)測量旋光物質的旋光率及待測旋光物質的濃度。
3)確認旋光物質為右旋,還是左旋特性。
2.用于光偏振實驗
1)了解和掌握圓和橢圓偏振光產生及檢驗方法。
2)驗證馬呂斯定律。
儀器主要技術參數:
1.半導體激光器 波長650nm,功率1.5-2mW,工作電壓3V。
2.光具座 長度為650mm,分度值為1mm,另有滑塊5只。
3.帶轉盤偏振片 2個,轉盤刻度 0°-360° ,分度值 1°。
4.帶光電接收功率計 量程200uW和2mW兩檔,三位半液晶顯示。
5.樣品管調節支架及樣品管,樣品管長 110mm,1個。